開發(fā)中采用仿真器方式對ARM系統(tǒng)的進(jìn)行調(diào)試,通過ARM處理器的JTAG邊界掃描口進(jìn)行調(diào)試,這種方式由宿主機(jī)、目標(biāo)機(jī)和仿真器組成。
宿主機(jī)就是調(diào)試用的PC機(jī),目標(biāo)板就是嵌入式激光打標(biāo)機(jī)控制器的核心板,使用的仿真器是用于ARM9的專用仿真器。
JTAG調(diào)試是ARM系統(tǒng)調(diào)試時(shí)使用最多的調(diào)試方法,JTAG是一種常用的國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議,主要用途有:芯片的內(nèi)部測試,通過測試其電氣特性判斷芯片是否有問題;對芯片及其外設(shè)進(jìn)行系統(tǒng)仿真與調(diào)試。含有JTAG調(diào)試接口模塊的芯片只要時(shí)鐘正常,就可以利用其JTAG接口來訪問芯片內(nèi)部的寄存器。
激光打標(biāo)機(jī)電光轉(zhuǎn)換效率高、整機(jī)體積小巧、輸出光束質(zhì)量好、可靠性高,更具有超長的運(yùn)行壽命,在加工上,激光打標(biāo)機(jī)可以快速地完成表面毛刺清除、字符和logo標(biāo)記、產(chǎn)品編號及條形碼的標(biāo)記;在日常維護(hù)和使用上,激光打標(biāo)機(jī)具有靈活性強(qiáng)、電光轉(zhuǎn)化率高、維護(hù)方便等優(yōu)勢。,分析F-θ鏡頭工作原理及像差要求,根據(jù)1064nm半導(dǎo)體激光打標(biāo)機(jī)的光源成像要求選擇合適的玻璃材料,合理分配每片透鏡的光焦度.